項(xiàng)目簡(jiǎn)介

　　利用輝光放電源作為離子源與質(zhì)譜儀器聯(lián)接進(jìn)行質(zhì)譜測(cè)定的一種分析 方法。 在材料科學(xué)領(lǐng)域，GDMS成為反應(yīng)性和非反應(yīng)性等離子體沉積過(guò)程的控制和表征的工具。由于其可以直接固體進(jìn)樣，GDMS已成為無(wú)機(jī)固體材料，尤其是高純材料雜質(zhì)成分分析的強(qiáng)有力方法，可得到元素半定量數(shù)據(jù)。

　　1. 測(cè)量時(shí)顯示時(shí)間-強(qiáng)度曲線，是客觀的，客觀體現(xiàn)隨濺射時(shí)間的增加元素強(qiáng)度的變化;

　　2. 測(cè)量后根據(jù)校準(zhǔn)曲線擬合轉(zhuǎn)換成深度-百分含量曲線;

　　3. 本數(shù)據(jù)用ORIGIN直接導(dǎo)入即可，出現(xiàn)很多縱坐標(biāo)，Y軸即為對(duì)應(yīng)元素，選擇需要的元素作圖即可(數(shù)據(jù)中可能出現(xiàn)“Fi”的數(shù)據(jù)列為儀器參數(shù)請(qǐng)忽略)

常見(jiàn)項(xiàng)目

　　暫無(wú)更多項(xiàng)目，請(qǐng)聯(lián)系海懷檢測(cè)工程師。

結(jié)果展示

常見(jiàn)問(wèn)題

　　1. 測(cè)試需要樣品導(dǎo)電嗎?適合測(cè)什么物質(zhì)呢?

　　要求樣品必須導(dǎo)電，一般適用于純物質(zhì)中雜質(zhì)的測(cè)試。

　　2. GDMS可以測(cè)的全部元素包含哪些呢?

以上為輝光放電光譜/質(zhì)譜(GD-OES/MS)檢測(cè)內(nèi)容，如需更多內(nèi)容以及服務(wù)請(qǐng)聯(lián)系我們海懷檢測(cè)。