項(xiàng)目簡介

　　球差校正透射電鏡(Spherical Aberration Corrected Transmission Electron Microscope，簡稱AC-TEM) 是用球差校正裝置扮演凹透鏡修正球差的透射電鏡，是一種用于材料科學(xué)、物理學(xué)、基礎(chǔ)醫(yī)學(xué)、化學(xué)工程領(lǐng)域的分析儀器。

常見項(xiàng)目

　　可做項(xiàng)目：

　　TEM，STEM，EDS,SAED，EELS等;

　　用途及功能：

　　形貌觀察：對各種材料內(nèi)部微結(jié)構(gòu)進(jìn)行顯微形貌觀察，可以觀察到原子級別。包括常見的粉末、納米顆粒形貌和粒徑觀察;配合三維重構(gòu)可以得到三維立體形貌;

　　結(jié)構(gòu)分析：利用選區(qū)電子衍射、高分辨透射圖像、高分辨掃描透射圖像等分析材料的結(jié)構(gòu);

　　成分分析：配合能譜儀可以對樣品元素做點(diǎn)、線、面分布分析，可以得到原子分辨率的元素面分布圖像;

結(jié)果展示

常見問題

　　1.　球差TEM可以測EDS和EELS嗎?兩者有什么區(qū)別?

　　 我們的球差電鏡是配有能譜EDS和電子能量損失譜EELS附件的;

　　 EDS和EELS均可用來做輕元素分析，但EELS更靈敏且統(tǒng)計(jì)性較好;EDS更適合做重元素分析，因?yàn)槠浞灞潮雀?，元素容易辨認(rèn);相比之下，EELS在重元素分析時(shí)常常受限于EELS峰型，峰背比和信噪比的影響致元素難以辨識。

以上為球差透射電鏡(AC-TEM)檢測內(nèi)容，如需更多內(nèi)容以及服務(wù)請聯(lián)系我們海懷檢測。