項(xiàng)目簡(jiǎn)介

　　X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer，簡(jiǎn)稱：XRF光譜儀)，是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。一般是半定量測(cè)試，測(cè)到的都是元素含量，氧化物含量也是根據(jù)單質(zhì)含量進(jìn)行換算的，可作為一種快速的無(wú)損分析。

　　可測(cè)元素范圍：常規(guī)測(cè)試范圍9F-92U，部分儀器可以測(cè)到O元素，如果需要測(cè)到O需要備注好，但是O的結(jié)果不準(zhǔn)。

　　制樣方法：壓片、融片

　　結(jié)果模式：?jiǎn)钨|(zhì)、氧化物

常見(jiàn)項(xiàng)目

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結(jié)果展示

常見(jiàn)問(wèn)題

　　1. 儀器的檢測(cè)限多少?元素含量低于多少結(jié)果會(huì)不可靠?

　　理論上儀器的檢測(cè)限為ppm—100%，但實(shí)際上 當(dāng)元素含量低于1%時(shí)測(cè)量會(huì)存在誤差，結(jié)果只能做為參考;

　　2. XRF對(duì)樣品有什么要求，片狀樣品可以測(cè)試嗎?

　　XRF樣品z好磨成粉末，且樣品量確保在3g以上，因?yàn)樾枰偷矸蹓浩鬁y(cè)試，如果樣品量太少，會(huì)導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確;

　　片狀樣品要求表面平整光潔無(wú)污染，直徑34-38 mm，厚度為3-5 mm的圓柱;只能定性+半定量，如需準(zhǔn)確定量z好是粉末，且顆粒大的必須磨成粉。

以上為X射線熒光光譜(XRF)檢測(cè)內(nèi)容，如需更多內(nèi)容以及服務(wù)請(qǐng)聯(lián)系我們海懷檢測(cè)。