項目簡介

　　橢圓偏振主要用于探測薄膜厚度、光學常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)，通過精確測量薄膜樣品的橢偏參數(shù),經(jīng)過后期數(shù)學處理、模擬和擬合，從而推導出多層結(jié)構(gòu)、均勻和非均勻結(jié)構(gòu)的厚度、光學常數(shù)(折射率，消光系數(shù))、組分以及其他相關參數(shù)。

常見項目

　　暫無更多項目，請聯(lián)系海懷檢測工程師。

結(jié)果展示

　　可得到膜厚及n，k曲線

常見問題

　　1. 橢偏儀可以測量哪些參數(shù)?

　　 利用橢偏儀測量薄膜參數(shù)，測量得到是的反射光的偏振狀態(tài)(振幅和相位)通過軟件建立一定的模型，膜厚，折射率，消光系數(shù)等參數(shù)時一并可以得到;

　　 2. 橢偏儀適用于哪些材料的測試?

　　 橢偏儀適用于無機材料，樣品有一定透光性。

以上為橢圓偏振(橢偏儀)檢測內(nèi)容，如需更多內(nèi)容以及服務請聯(lián)系我們海懷檢測。