項目簡介

　　當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有X射線衍射分析相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，每種晶體所產(chǎn)生的衍射花樣都反映出該晶體內(nèi)部的原子分配規(guī)律。這就是X射線衍射的基本原理。

常見項目

　　銅靶-X射線多晶衍射(XRD)

　　鈷靶-X射線多晶衍射(鈷靶XRD)：XRD的光源來自于靶材的特征X射線，對于含有較多Fe，Ni，Mn，Cr元素的樣品，為避免Cu靶材產(chǎn)生的特征X射線激發(fā)樣品的熒光輻射，使圖樣清晰。建議使用Co靶測試。

　　變溫X射線多晶衍射(變溫XRD)：材料在升降溫過程中有可能發(fā)生多種轉(zhuǎn)化，物相轉(zhuǎn)變是其中之一。通過變溫原位XRD可以實時檢測材料在溫度范圍內(nèi)的相變。在高溫區(qū)間由于原子熱振動加劇，XRD數(shù)據(jù)可能會出現(xiàn)質(zhì)量較差的情況。

　　掠入射XRD(GIXRD)：常規(guī)XRD采用的是X射線直射樣品，由于X射線的穿深較大，對有基底的薄膜樣品，薄膜的峰經(jīng)常被基底的峰掩蓋。掠入射采用與樣品近似平行的入射角度，使X射線僅照射在樣品表面，著重關(guān)注薄膜樣品的信號，規(guī)避基底信號。

　　微區(qū)XRD：常規(guī)XRD掃描范圍較大，微區(qū)可以僅關(guān)注樣品中的某個局部。關(guān)注區(qū)域直徑一般在200微米-1毫米。

　　高分辨XRD：HRXRD是一種基于XRD的一種新型測試模式，廣泛用于單晶質(zhì)量、外延薄膜的厚度、組分、晶胞參數(shù)、缺陷、失配、弛豫、應(yīng)力等結(jié)構(gòu)參數(shù)的測試。

　　XRD搖擺曲線：搖擺曲線測試也叫做w掃描，是一種測試某個晶面在樣品中角發(fā)散大小的測試方法。

　　二維廣角X射線衍射(2D-WAXRD)：X射線在平面內(nèi)發(fā)生散射，由檢測器記錄二維數(shù)據(jù)，一般用于研究材料的取向。可通過2D-XRD復(fù)現(xiàn)常規(guī)XRD的結(jié)果，也可以通過方位角曲線計算材料的取向度。

結(jié)果展示

常見問題

　　1. 樣品峰信號不好，測試時候有沒有什么改善方法呢?

　　建議只掃出峰位置，這樣強(qiáng)度和峰形會較好一些;

　　2. XRD測試薄膜樣品，對膜厚有什么要求呢?

　　XRD常規(guī)模式要求膜厚必須均勻，有些薄膜不均勻，兩邊厚中間薄是會影響峰強(qiáng)度的;

　　3. XRD定量的準(zhǔn)確度如何呢?

　　XRD只能做半定量分析，定量結(jié)果只能參考，準(zhǔn)確度不高;

　　4. XRD掠入射角度的選擇?

　　掠射角度建議越小越好，一般都是0-1°z好，例如0.5°，不建議2°或3°，這種基本不叫掠射，基底的信號也會比較明顯;

　　5. 有熒光散射的樣品測XRD，數(shù)據(jù)會受影響?是否可以改善?

　　有熒光散射現(xiàn)象的樣品，比如鐵，銅靶測試鐵含量較高的樣品時，測試結(jié)果基線會比較高，這種情況是無法改善的。

　　6. 高溫XRD樣品對塊體樣品厚度有要求嗎?

　　對于高溫XRD，塊體厚度盡量控制在2mm以內(nèi)，應(yīng)盡量薄，否則上下表面會有較大溫差，引起測試結(jié)果不準(zhǔn)確;

　　7. 高溫XRD如何選取溫度點?

　　一般會結(jié)合TG-DSC的數(shù)據(jù)，凡是吸熱放熱的溫度點，一般都定為XRD測試溫度點;

　　8. 高溫XRD隨著溫度升高，峰位為什么會出現(xiàn)左移現(xiàn)象?

　　隨溫度升高使衍射峰左移，這是因為一般材料都是正膨脹系數(shù)材料，即隨溫度升高而膨脹。根據(jù)布拉格公式2dsinθ= nλ，在波長不變的情況下，d值增大，必然使sinθ 變小，而在衍射范圍內(nèi)，也就是θ變小，即峰位左移;

以上為X射線多晶衍射(XRD)檢測內(nèi)容，如需更多內(nèi)容以及服務(wù)請聯(lián)系我們海懷檢測。