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X射線單晶衍射(SC-XRD)

X射線單晶衍射(SC-XRD)

所屬欄目:結(jié)構(gòu)組成

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X射線單晶衍射(SC-XRD)

項(xiàng)目簡(jiǎn)介

  通過X射線入射單晶樣品產(chǎn)生的衍射斑點(diǎn)確認(rèn)晶體參數(shù)和物質(zhì)的結(jié)構(gòu)組成。


常見項(xiàng)目

  暫無更多項(xiàng)目,請(qǐng)聯(lián)系海懷檢測(cè)工程師。

結(jié)果展示

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常見問題

  1. 在單晶測(cè)試的過程中選擇大小和形狀都不錯(cuò)的晶體,但是晶體上機(jī)器測(cè)試的時(shí)候卻出現(xiàn)衍射點(diǎn)很混亂,是什么原因造成的?

  太大了也不好,缺陷就會(huì)增多;衍射點(diǎn)混亂還可能使多晶或?qū)\晶,有些儀器通過設(shè)置可以分離出孿晶或多晶的衍射點(diǎn),數(shù)據(jù)收集還原沒有任何問題,但問題是比較麻煩且耗時(shí),不建議繼續(xù)測(cè)試;可能測(cè)試過程中粉末化,這種需要在溶液中挑出立即測(cè),或低溫測(cè)試;晶體表面并不光滑,有時(shí)候眼睛看著還可以,儀器更靈敏。


以上為X射線單晶衍射(SC-XRD)檢測(cè)內(nèi)容,如需更多內(nèi)容以及服務(wù)請(qǐng)聯(lián)系我們海懷檢測(cè)。